 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 規格說明： | |
| 1. |
包含溫度感測器信號處理電路、設定點電路、誤差放大電路、PID 控制器、 功率放大電路與溫度程序單元 |
| 2. | 溫度感測器：STT、RTC及 J 型熱電耦 |
| 3. | 面板上印有電路簡圖，背面由透明壓克力保護 |
| 4. | 溫度控制範圍：室溫 ~ 250°C |
| 5. | 具半導體溫度轉換器( STT)線性化信號處理電路 |
| (1) 一般電阻 : 1000Ω( 25°C，1mA ) | |
| (2) 溫度範圍 : -55 ~ +175 | |
| (3) 溫度係數 : 0.75%/°C | |
| 6. | RTD 熱阻器 |
| (1) 具定電流產生器信號處理電路 | |
| (2) PT-100，溫度範圍 : 0 ∼ 250°C | |
| 7. | J 型熱電耦 |
| (1) 比例常數 : 32mv/°C | |
| (2) 熱電耦轉換常數 : 53μv/C | |
| (3) 具有冷接面補償信號處理電路 | |
| 8. | 具穩壓器之參考電壓產生器 |
| 9. | 具可調整 PID 控制器 |
| 10. | 具 TRAIC 相位控制功率放大器 |
|
11. |
溫度程序單元 : |
| (1) 具有熱隔離層金屬基板 | |
| (2) 加熱元件(24VAC, 2×50W) | |
| (3) 風扇(170m/hr, 24VDC/4.5W) | |
| (4) 汞柱溫度計 | |
|
|
|
| 實驗課程： | |
| 1. | STT 信號處理電路校正實驗 |
| 2. | RTD 信號處理電路校正實驗 |
| 3. | 熱電耦信號處理電路校正實驗 |
| 4. | 功率放大器電路校正實驗 |
| 5. | 設定點電路校正實驗 |
| 6. | PID 與誤差放大電路校正實驗 |
| 7. | STT 特性曲線實驗 |
| 8. | RTC 特性曲線實驗 |
| 9. | 熱電耦特性曲線實驗 |
| 10. | 溫度感測器時間常數之量測 |
| 11. | 溫度 PID 控制系統實驗 |
|
|
|
|
| 回自動控制實驗設備 |回感測與程控實驗設備 | |
|
