Test Designer

最新 CAE 軟體工具,完成類比與數位混合電路之模擬、故障分析、故障檢測與測試程序合成等工作。

        Intusoft 推出最新測試工程模擬軟體 Test DesignerTest Designer 自動完成測試模擬、故障分析、故障隔離與產生詳細的測試程式策略報告,使用者可依測試需求建立不同的測試電路結構與不同的測試分析條件。測試模擬可考量各種元件故障模式與公差條件,量測各種測試條件中的峰對峰值,最大值上升時間等測量值,並可指定量測正常範圍與公差,決定 pass/fail 狀態。而在應用 Test Designer 的過程中使用者無需插入或建立任何測試策略,此一超強功能擴展了 SPICE 單一模擬分析目的,為測試工程模擬技術開創新的契機,此應用技術於 1997 設計自動化研討會中正式發表。
 
        Test Designer 包含完整的電路圖輸入軟體 SpiceNet,元件模型資料庫 PreSpiceIsSpice 類比與數位混合式模擬器與超強圖型後置處理器 IntuScope,所有主要的資料輸入,分析或特性報告均將圖形顯示編輯方式,使用者不需為了定義某一種元件模型、故障模式、量測值或測試程序而規劃編寫任何程式。內建超過13,000個元件模型資料庫,並依美國海軍之〝CASS〞標準定義其故障模式,使用者亦可定義不同的故障模式。
        測試工程設計乃依測試 Entropy 採自動或手動方式歸納產生合理的故障樹 (fault tree),使用者可自行定義故障樹之名稱與說明,亦可一次或一步一步複雜化方式完成故障樹之設計,使用者可詳細檢測或修改故障樹測試之策略。處理後可輸出成數種文字格式,即可加入測試設備專用控制語法自動測試程式語言。
        應用 Test Designer 所產生之測試策略可改善與檢測生產測試流程•無需製造試製品或等待實際生產測試之後才能獲知結果。
        Test Designer大大改善現行手動測試程序研究工作與縮短測試程式開發時間。

Test Designer 故障分析報告

        由 Test Designer 所產生的故障分析報告如上圖所示:說明每一元件故障時之操作點電壓量測值。Pass/Fail 圖形只是法說明量測結果,分別表示測試失敗,通過或不能收斂。所有量測均自動執行,使用者無需編輯任何 ICL 指令。正常值之後定可由最後模擬結果自動定義,不必分別定義其公差或設定故障,而所有量側值之限制值或最大/最小公差亦可各別設定。

        Test Designer 視窗畫面如上圖所示:Test Designer 左下視窗為故障模式定義視窗,中下視窗則是設定各種電路結構對話欄,而故障樹視窗則如右下視窗所示。

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